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芯片FA分析流程图
芯片FA分析流程图是一种用于分析芯片故障行为的流程图。在芯片设计、开发和生产过程中,故障分析是非常重要的一环。通过分析故障行为,工程师可以确定故障的原因,并采取相应的措施来修复或避免故障的发生。本文将...
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芯片efa分析
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。芯片EFA分析是一种评估电子设计功能面积(EFA)的常用方法。EFA是电子设计中一个重要的参数,它指的是设计中实际用到的面积...
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纳米压痕数据怎么处理分析
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。纳米压痕数据处理分析是一个涉及到材料科学、物理学和计量学等领域的交叉学科。在这个领域中,纳米压痕数据处理分析是非常重要的一项技...
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国产扫描电镜价格
扫描电镜是一种高精度的检测仪器,被广泛应用于实验室研究、质量控制、医学诊断等领域。近年来,随着国产扫描电镜技术的不断发展和成熟,国产扫描电镜逐渐成为市场上的热门产品。本文将探讨国产扫描电镜的价格、优势...
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透射光谱分析
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。透射光谱分析是一种重要的分...
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芯片power分析
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。芯片功率分析是现代电子设计中至关重要的一环。在现代电子设备中,芯片的功耗已经成为了影响设备性能和寿命的重要因素。因此,对芯片的...
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芯片分析结果arr(x)x1-2
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。芯片分析结果arr(x)x...
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透射电镜下层错形貌
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。透射电镜是一种研究材料结构与性质的常用显微镜,其通过透过被观察样品的光线,利用透镜系统将样品放大成清晰的图像。透射电镜技术在金...
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芯片分析工程师
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。芯片分析工程师是现代科技领...
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芯片切片分析
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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