-
扫描电镜和透射电镜对样品的厚度要求不同
扫描电镜和透射电镜是两种不同的电子显微镜,它们对样品的厚度要求不同。在实际应用中,正确选择扫描电镜和透射电镜能够提供更好的成像效果。本文将讨论扫描电镜和透射电镜的原理、特点以及在不同厚度下的表现,从而...
331 -
检验fib是什么意思
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
446 -
芯片ic电路修改_技术好_价格低_免费测试
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
456 -
聚焦离子束刻蚀样品固定的原理
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
325 -
聚焦离子束加工技术的应用有哪些方面
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。离子束加工技术是一种高能束流技术,通过将高能离子束聚焦在工件上,以实现对其进行微纳加工的目的。离子束加工技术具有非接触、高效率...
289 -
纳米压痕数据怎么处理分析报告
纳米压痕数据处理分析报告摘要本文旨在介绍纳米压痕数据的处理和分析方法。纳米压痕技术作为一种新型的非接触式测量技术,可以用来测量材料的硬度、弹性和表面形貌。通过对纳米压痕数据进行处理和分析,可以得到有关...
443 -
f是什么测量单位
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。F是什么测量单位?F是国际单位制(SI)中磁通量(MagneticFlux)的符号。磁通量是一种测量磁场穿过某一表面的量度,是...
524 -
聚焦离子束扫描电子显微镜注意事项有哪些内容
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
309 -
芯片电阻率公式
芯片电阻率公式是描述芯片电阻与电压之间关系的数学公式。在半导体物理学中,电阻率是一个非常重要的物理量,会影响到芯片的性能和功耗。本文将介绍芯片电阻率公式的相关知识。一、芯片电阻率的概念芯片电阻率是指芯...
571 -
芯片上的disable
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。芯片上的disable技术——实现高效节能的利器随着科技的飞速发展,集成电路中的各个部件都在不断地追求更高的性能和更低的功耗。...
563